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Fifth World Congress on Intelligent Control and Automation (IEEE Cat. No.04EX788) - 最新文献
Fault diagnosis technology based on wavelet analysis and resonance demodulation
Pub Date : 2004-10-18 DOI: 10.1109/WCICA.2004.1340972 Fengxing Zhou, Gengguo Cheng, Jun Zhou, Wei LiangAn approach for controller fault detection
Pub Date : 2004-10-18 DOI: 10.1109/WCICA.2004.1340931 C. Dai, S.H. Yang, L. TanA fast and accurate algorithm for estimating frequency of a sine wave under low-signal-noise-ratio background
Pub Date : 2004-10-18 DOI: 10.1109/WCICA.2004.1343304 Kaichun Re, Yaqing Tu, Xuanqi Zhang
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