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Proceedings Sixth Asian Test Symposium (ATS'97) - 最新文献
New capabilities of OBIRCH method for fault localization and defect detection
Pub Date : 1997-11-17 DOI: 10.1109/ATS.1997.643961 K. Nikawa, S. InoueExploiting logic simulation to improve simulation-based sequential ATPG
Pub Date : 1997-11-17 DOI: 10.1109/ATS.1997.643922 Fulvio Corno, P. Prinetto, M. Rebaudengo, M. Reorda, M. ViolanteOn energy efficiency of VLSI testing
Pub Date : 1997-11-17 DOI: 10.1109/ATS.1997.643948 Cheng-Wen Wu
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