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2006 International Symposium on VLSI Technology, Systems, and Applications - 最新文献
P-channel SONOS Transient Current Modeling for Program and Erase
Pub Date : 2006-11-30 DOI: 10.1109/VTSA.2006.251116 P. Du, Jyh-Chyurn Guo, H. Lee, H. Chen, R. Shen, C. HsuHfSiON Gate Dielectric for 45nm Node Low-Power Device
Pub Date : 2006-04-24 DOI: 10.1109/VTSA.2006.251088 T. Gan, H. Wang, Shang-Jr Chen, Ching-Wei Tsai, P. Lim, Huan-Just Lin, Ying Jin, H. Tao, Shih-Chang Chen, Y. Leung, C. H. Diaz, M. Liang, Y. MiiDie-Based Electromigration Characterization For Copper/Low-K Dual Damascene Interconnects
Pub Date : 2006-04-24 DOI: 10.1109/VTSA.2006.251098 Shou-Chung Lee, A. Oates
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