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2000 5th International Workshop on Statistical Metrology (Cat.No.00TH8489 - 最新文献
An efficient statistical model using electrical tests for GHz CMOS devices
Pub Date : 2000-06-11 DOI: 10.1109/IWSTM.2000.869315 Sang-Hoon Lee, Dong-Yun Lee, T. Kwon, Joo-Hee Lee, Young-Kwan Park, Bumjoon Kim, J. KongStatistical circuit modeling and optimization
Pub Date : 2000-06-11 DOI: 10.1109/IWSTM.2000.869312 S. DuvallAn investigation of response surfaces among process, device and circuit using analytical model
Pub Date : 2000-06-11 DOI: 10.1109/IWSTM.2000.869300 N. Shigyo
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