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Proceedings 19th IEEE VLSI Test Symposium. VTS 2001 - 最新文献
Burn-in failures and local region yield: an integrated field-reliability model
Pub Date : 2001-03-29 DOI: 10.1109/VTS.2001.923457 T. S. Barnett, A. Singh, V. NelsonRT-level fault simulation based on symbolic propagation
Pub Date : 2001-03-29 DOI: 10.1109/VTS.2001.923445 O. Sinanoglu, A. OrailogluCurrent measurement for dynamic I/sub dd/ test
Pub Date : 2001-03-29 DOI: 10.1109/VTS.2001.923427 Xiaoyun Sun, B. Vinnakota
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