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2003 Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium - 最新文献
Combined TLP/RF testing system for detection of ESD failures in RF circuits
Pub Date : 2003-09-01 DOI: 10.1109/TEPM.2005.854142 S. Hyvonen, S. Joshi, E. RosenbaumESD phenomena in GMR heads in the manufacturing process of HDD and GMR heads
Pub Date : 2003-09-01 DOI: 10.1109/TEPM.2005.854299 J. Matsugi, T. Nakano, Y. Mizoh, K. Nakamura, H. Sakakima
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