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2015 International Semiconductor Conference (CAS) - 最新文献
A study to improve IGBT reliability in power electronics applications
Pub Date : 2015-12-17 DOI: 10.1109/SMICND.2015.7355149 V. Sundaramoorthy, E. Bianda, G. RiedelHigh temperature sensors based on silicon carbide (SiC) devices
Pub Date : 2015-12-17 DOI: 10.1109/SMICND.2015.7355147 G. Brezeanu, M. Badila, F. Draghici, R. Pascu, G. Pristavu, F. Craciunoiu, I. RusuPressure sensors based on high frequency operating GaN FBARs
Pub Date : 2015-12-17 DOI: 10.1109/SMICND.2015.7355174 I. Giangu, G. Stavrinidis, A. Stefanescu, A. Stavrinidis, A. Dinescu, G. Konstantinidis, A. Muller
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