查看最新文献
订阅
分享
68发文信息
历年影响因子
历年发表
投稿信息
Proposed for presentation at the 2021 63rd Electronic Materials Conference (EMC) - Virtual Conference held June 23-25, 2021. - 最新文献
Rapid Ge Diffusion along Si/SiO2 Interfaces during High Temperature Oxidation for Quantum-Scale Structures.
Pub Date : 2021-05-01 DOI: 10.2172/1870280 Chappel S Thornton, B. Hicks, Emily M. Turner, George Wang, M. Law, K. Jones
免责声明：
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
京公网安备 11010802042870号
