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2020 IEEE 24th Workshop on Signal and Power Integrity (SPI) - 最新文献
A Generalised Approach for Analysing the Impact of Supply Noise in MOS Amplifiers
Pub Date : 2020-05-01 DOI: 10.1109/SPI48784.2020.9218158 V. Sharma, J. N. Tripathi, H. Shrimali
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