查看最新文献
订阅
分享
1784发文信息
历年影响因子
历年发表
投稿信息
1996 Proceedings Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium - 最新文献
Numerical calculation of ESD
Pub Date : 1996-12-01 DOI: 10.1109/EOSESD.1996.865143 R. Jobava, D. Karkashadze, R. Zaridze, P. Shubitidze, D. Pommerenke, M. AidamCircuit-level simulation of CDM-ESD and EOS in submicron MOS devices
Pub Date : 1996-12-01 DOI: 10.1109/EOSESD.1996.865158 S. Ramaswamy, E. Li, Elyse Rosenbaum, S. KangESD protection measures - return on investment calculation and case study
Pub Date : 1996-09-10 DOI: 10.1109/EOSESD.1996.865135 K. Helling
免责声明：
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
京公网安备 11010802042870号
