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2017 IEEE 35th VLSI Test Symposium (VTS) - 最新文献
A low-cost method for separation and accurate estimation of ADC noise, aperture jitter, and clock jitter
Pub Date : 2017-04-09 DOI: 10.1109/VTS.2017.7928950 Shravan K. Chaganti, Li Xu, Degang ChenFail data reduction for diagnosis of scan chain faults under transparent-scan
Pub Date : 2017-04-09 DOI: 10.1109/VTS.2017.7928924 I. PomeranzStructured scan patterns retargeting for dynamic instruments access
Pub Date : 2017-04-09 DOI: 10.1109/VTS.2017.7928955 Ahmed M. Y. Ibrahim, H. Kerkhoff
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