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Proceedings of 3rd International Workshop on the Economics of Design, Test and Manufacturing - 最新文献
System test cost modelling based on event rate analysis
Pub Date : 1994-10-02 DOI: 10.1109/TEST.1994.527939 D. Farren, A. AmblerError modeling in board test
Pub Date : 1994-05-16 DOI: 10.1109/ICEDTM.1994.496088 T. Ziaja, E. SwartzlanderEnhancing temporal testability and its effects on design and test generation
Pub Date : 1994-05-16 DOI: 10.1109/ICEDTM.1994.496104 S. Baeg, W. A. Rogers
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