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2003 IEEE Radiation Effects Data Workshop - 最新文献
Characterization of SET response of the LM124A the LM111, and the LM6144
Pub Date : 2003-07-21 DOI: 10.1109/REDW.2003.1281361 M. Savage, T. Turflinger, J. Titus, R. Pease, C. PoiveySEE sensitivity trends in non-hardened high density SRAMs with sub-micron feature sizes
Pub Date : 2003-07-21 DOI: 10.1109/REDW.2003.1281350 J. George, R. Koga, K. Crawford, P. Yu, S. Crain, V. TranProton irradiation testing of ATMEL 68360 processor and GaAs MMICs
Pub Date : 2003-07-21 DOI: 10.1109/REDW.2003.1281371 J. Seon, S.J. Kim, S. Min, Y.M. Lee, J. Park, K. Min, T.J. Chung, H. Chun
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