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2008 14th International Workshop on Thermal Inveatigation of ICs and Systems - 最新文献
CFD for Electronics Cooling: MCAD and EDA embedded vs. stand-alone
Pub Date : 2008-11-11 DOI: 10.1109/THERMINIC.2008.4669869 J. ParryHot-carrier effects on power RF LDMOS device reliability
Pub Date : 2008-11-11 DOI: 10.1109/THERMINIC.2008.4669892 M. Belaid, K. KetataNew approach for thermal investigation of a III – V power transistor
Pub Date : 2008-11-11 DOI: 10.1109/THERMINIC.2008.4669873 M. Fontaine, E. Joubert, O. Latry, P. Dherbécourt, M. Ketata
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