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2015 International Workshop on CMOS Variability (VARI) - 最新文献
Within-die and die-to-die variability on 65nm CMOS : oscillators experimental results
Pub Date : 2015-09-01 DOI: 10.1109/VARI.2015.7456559 Juan Pablo Martinez Brito, M. Lubaszewski, S. BampiMOSFET stacked-pair test structure for mismatch evaluation by estimating the on-resistance ratio
Pub Date : 2015-09-01 DOI: 10.1109/VARI.2015.7456560 Juan Pablo Martinez Brito, M. Lubaszewski, S. BampiIs intrinsic noise a limiting factor for subthreshold digital logic in nanoscale CMOS?
Pub Date : 2015-09-01 DOI: 10.1109/VARI.2015.7456562 Francisco Veirano, F. Silveira, Lirida Navinery
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