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2015 IEEE International Conference on Microelectronics Systems Education (MSE) - 最新文献
Using industry-grade test equipment in a digital test and product engineering lab course
Pub Date : 2015-05-20 DOI: 10.1109/MSE.2015.7160006 Christopher Miller, T. Hudson, S. SipesTechnological fluency through circuit bending
Pub Date : 2015-05-20 DOI: 10.1109/MSE.2015.7160012 E. BrunvandA system-level mixed-signal design course
Pub Date : 2015-05-20 DOI: 10.1109/MSE.2015.7160014 L. Svensson, L. Peterson
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