查看最新文献
订阅
分享
521发文信息
历年影响因子
历年发表
投稿信息
2015 IEEE International Conference on Microelectronics Systems Education (MSE) - 最新文献
Using industry-grade test equipment in a digital test and product engineering lab course
Pub Date : 2015-05-20 DOI: 10.1109/MSE.2015.7160006 Christopher Miller, T. Hudson, S. SipesTechnological fluency through circuit bending
Pub Date : 2015-05-20 DOI: 10.1109/MSE.2015.7160012 E. BrunvandThe impact of industry-organized contests on EDA education
Pub Date : 2015-05-20 DOI: 10.1109/MSE.2015.7160008 Nima Karimpour Darav, Amin Farshidi, Aysa Fakheri Tabrizi, Emily Marasco, A. Karbalaei, A. Kennings, Ismail Bustany, L. Behjat
免责声明：
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
京公网安备 11010802042870号
