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Proceedings First IEEE International Workshop on Electronic Design, Test and Applications '2002 - 最新文献
An applications-based approach to measuring DSP efficiency
Pub Date : 2002-01-29 DOI: 10.1109/DELTA.2002.994589 J. G. Chase, C. Pretty, Alex Bedarida, P. Bettleri/sub DDT/ test methodologies for very deep sub-micron CMOS circuits
Pub Date : 2002-01-29 DOI: 10.1109/DELTA.2002.994659 A. Chehab, R. Makki, M. Spica, David WuDesign of an auxiliary power distribution network for an electric vehicle
Pub Date : 2002-01-29 DOI: 10.1109/DELTA.2002.994625 William Chen, S. Round, R. Duke
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