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20th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT'05) - 最新文献
Using statistical transformations to improve compression for linear decompressors
Pub Date : 2005-10-03 DOI: 10.1109/DFTVS.2005.68 Samuel I. Ward, C. Schattauer, N. ToubaA design flow for protecting FPGA-based systems against single event upsets
Pub Date : 2005-10-03 DOI: 10.1109/DFTVS.2005.5 L. Sterpone, M. ViolanteOn-line identification of faults in fault-tolerant imagers
Pub Date : 2005-10-03 DOI: 10.1109/DFTVS.2005.54 G. Chapman, I. Koren, Z. Koren, J. Dudas, C. Jung
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