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Proceedings. 21st VLSI Test Symposium, 2003. - 最新文献
An efficient test relaxation technique for synchronous sequential circuits
Pub Date : 2004-06-01 DOI: 10.1109/VTEST.2003.1197649 A. El-Maleh, K. Al-UtaibiFault testing for reversible circuits
Pub Date : 2004-04-01 DOI: 10.1109/VTEST.2003.1197682 K. N. Patel, J. Hayes, I. MarkovTest data compression using dictionaries with fixed-length indices [SOC testing]
Pub Date : 2003-05-07 DOI: 10.1109/VTEST.2003.1197654 Lei Li, K. Chakrabarty
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