2018 IEEE 38th International Electronics Manufacturing Technology Conference (IEMT)

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2018 IEEE 38th International Electronics Manufacturing Technology Conference (IEMT) - 最新文献

Assessment Methodology on Mold Void Defect by Scanning Acoustic Microscopy (SAM) Non-Destructive Technique

Pub Date : 2018-09-01 DOI: 10.1109/IEMT.2018.8511798 Eric Wong Soon Kiong, C. Y. Lai

Design of a Compact PIFA Tag Antenna for Wearable Electronics

Pub Date : 2018-09-01 DOI: 10.1109/IEMT.2018.8511717 Wai-Hau Ng, Yang-Hong Lee, E. Lim, B. Chung
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