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2022 IEEE International Conference on Design & Test of Integrated Micro & Nano-Systems (DTS) - 最新文献
Ensuring Quality of High-Speed IO Interfaces through System Level Test
Pub Date : 2022-06-06 DOI: 10.1109/DTS55284.2022.9809898 S. AbdennadherSoftware System for Modeling Temperature Distribution During the Electron Beam Welding
Pub Date : 2022-06-06 DOI: 10.1109/DTS55284.2022.9809892 D. Rogova, S. Kurashkin, V. Tynchenko, E. Shutkina, Nazar Saidov, A. BocharovDevelopment of a nano-bioplatform for SARS-CoV-2 specific antigens detection
Pub Date : 2022-06-06 DOI: 10.1109/DTS55284.2022.9809866 Asma El Golli, Simone Cavalera, F. Di Nardo, L. Anfossi, C. Dridi
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