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Proceedings 1995 IEEE Hong Kong Electron Devices Meeting - 最新文献
Photoluminescent porous polycrystalline silicon
Pub Date : 1995-07-01 DOI: 10.1109/HKEDM.1995.520633 P. Han, M. Poon, K. Sin, M. WongNumerical simulation of SPIR detectors
Pub Date : 1995-07-01 DOI: 10.1109/HKEDM.1995.520645 N. Jo, S. Yoo, Byung-Seob Cho, Hyeong-Rae Kim, K. Kwack, Sang-Don Lee, Hong-Kuk Kim, Jae-Mook KimHot electron-induced MOS transconductance degradation
Pub Date : 1995-07-01 DOI: 10.1109/HKEDM.1995.520635 K. Yip, H. Wong, Y. Cheng
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