查看最新文献
订阅
分享
746发文信息
历年影响因子
历年发表
投稿信息
Eleventh IEEE European Test Symposium (ETS'06) - 最新文献
On-Chip Evaluation, Compensation, and Storage of Scan Diagnosis Data - A Test Time Efficient Scan Diagnosis Architecture
Pub Date : 2006-05-21 DOI: 10.1049/iet-cdt:20060129 Frank Poehl, Matthias Beck, R. Arnold, Jan Rzeha, Thomas Rabenalt, M. GösselNew Techniques for Accessing Embedded Instrumentation: IEEE P1687 (IJTAG)
Pub Date : 2006-05-21 DOI: 10.1109/ETS.2006.33 B. Eklow, B. BennettsWrapper Design for the Reuse of Networks-on-Chip as Test Access Mechanism
Pub Date : 2006-05-21 DOI: 10.1109/ETS.2006.48 Alexandre M. Amory, K. Goossens, E. Marinissen, M. Lubaszewski, F. Moraes
免责声明：
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
京公网安备 11010802042870号
