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2014 IEEE 23rd North Atlantic Test Workshop - 最新文献
On-chip Clock Testing and Frequency Measurement
Pub Date : 2014-05-14 DOI: 10.1109/NATW.2014.12 R. Tekumalla, Prakash KrishnamoorthyLocal Repair Signature Handling for Repairable Memories
Pub Date : 2014-05-14 DOI: 10.1109/NATW.2014.10 R. Tekumalla, Prakash Krishnamoorthy
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