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2020 IEEE International Conference on Semiconductor Electronics (ICSE) - 最新文献
Characterization of Amorphous GaN Thin Films after Conventional Thermal Anneal
Pub Date : 2020-07-01 DOI: 10.1109/ICSE49846.2020.9166900 A. S. Bakri, N. Nayan, A. Bakar, R. Ali, M. Z. Sahdan, S. Fhong, W. H. Abd Majid, M. K. Ahmad, Muliana Tahan, N. A. Raship, M. Y. Ahmad, Ali Kanakhir Aldabahi
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