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European Test Symposium (ETS'05) - 最新文献
Design validation of behavioral VHDL descriptions for arbitrary fault models
Pub Date : 2005-05-22 DOI: 10.1109/ETS.2005.14 Fei Xin, M. Ciesielski, I. HarrisAutomatic March tests generation for static and dynamic faults in SRAMs
Pub Date : 2005-05-22 DOI: 10.1109/ETS.2005.8 A. Benso, A. Bosio, S. Carlo, G. D. Natale, P. PrinettoConvolutional compaction-driven diagnosis of scan failures
Pub Date : 2005-05-22 DOI: 10.1109/ETS.2005.11 Grzegorz Mrugalski, Artur Pogiel, J. Rajski, J. Tyszer, Chen Wang
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