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2022 IEEE 34th International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) - 最新文献
Introduction of a Reset MOSFET to Mitigate the Influence of Ionic Movement in Perovskite MOSFET Photodetector Measurements
Pub Date : 2022-03-21 DOI: 10.1109/ICMTS50340.2022.9898238 Jinbo Liu, R. Haroldson, Grigorii Verkhogliadov, Dayang Lin, Q. Gu, A. Zakhidov, W. Hu, C. D. YoungChecks on temperature during on-wafer I-V characterization of Si diodes made with 2-D interfacial layers
Pub Date : 2022-03-21 DOI: 10.1109/ICMTS50340.2022.9898239 J. van Zoeren, L. NanverS-Parameter Measurement and EM Simulation of Electronic Devices towards THz frequency range
Pub Date : 2022-03-21 DOI: 10.1109/ICMTS50340.2022.9898233 C. Yadav, S. Frégonèse, M. Cabbia, M. Deng, M. De matos, T. Zimmer
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