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1991, Proceedings. International Test Conference - 最新文献
A common approach to test generation and hardware verification based on temporal logic
Pub Date : 1991-10-26 DOI: 10.1109/TEST.1991.519494 T. Kropf, H. WunderlichFault Location with Current Monitoring
Pub Date : 1991-10-26 DOI: 10.1109/TEST.1991.519726 R. AitkenAN ALGORITHM TO TEST RAMS FOR PHYSICAL NEIGHBORHOOD PATTERN SENSITIVE FAULTS
Pub Date : 1991-10-26 DOI: 10.1109/TEST.1991.519732 M. Franklin, K. Saluja
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