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31st Annual Proceedings Reliability Physics 1993 - 最新文献
Hole injection oxide breakdown model for very low voltage lifetime extrapolation
Pub Date : 1993-03-23 DOI: 10.1109/RELPHY.1993.283311 K. Schuegraf, C. HuA model relating wearout induced physical changes in thin oxides to the statistical description of breakdown
Pub Date : 1993-03-23 DOI: 10.1109/RELPHY.1993.283286 D. Dumin, R. S. Scott, R. SubramoniamCorrelation between negative bulk oxide charge and breakdown: modeling, and new criteria for dielectric quality evaluation
Pub Date : 1993-03-23 DOI: 10.1109/RELPHY.1993.283287 C. Monserie, C. Papadas, G. Ghibaudo, C. Gounelle, P. Mortini, G. Pananakakis
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