查看最新文献
订阅
分享
2176发文信息
历年影响因子
历年发表
投稿信息
2004 Symposium on VLSI Circuits. Digest of Technical Papers (IEEE Cat. No.04CH37525) - 最新文献
On-die CMOS leakage current sensor for measuring process variation in sub-90nm generations
Pub Date : 2005-05-09 DOI: 10.1109/ICICDT.2005.1502635 C.H. Kim, K. Roy, S. Hsu, R. Krishnamurthy, S. BorkarA 10 Gb/s receiver with equalizer and on-chip ISI monitor in 0.11 /spl mu/m CMOS
Pub Date : 2004-06-17 DOI: 10.1109/VLSIC.2004.1346559 Y. Tomita, M. Kibune, J. Ogawa, W. Walker, H. Tamura, T. KurodaMicroprocessor power optimization through multi-performance device insertion
Pub Date : 2004-06-17 DOI: 10.1109/VLSIC.2004.1346606 H. L. Yeager, M. Patyra, R. Reyes, K. Bowman
免责声明：
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
京公网安备 11010802042870号
