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Reliability of Organic Compounds in Microelectronics and Optoelectronics - 最新文献
Peridynamic Modeling of Thermo-oxidative Degradation in Polymers
Pub Date : 1900-01-01 DOI: 10.1007/978-3-030-81576-9_4 P. Roy, D. Behera, E. Madenci, S. OterkusDegradation Mechanisms of Silicones
Pub Date : 1900-01-01 DOI: 10.1007/978-3-030-81576-9_1 F. de Buyl, Shingekatsu YoshidaMolecular Modeling for Reliability Issues
Pub Date : 1900-01-01 DOI: 10.1007/978-3-030-81576-9_5 N. Iwamoto
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