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Proposed for presentation at the 2021 IEEE Texas Symposium WMCS held May 18-20, 2021 in Virtual. - 最新文献
On-Wafer Microfabricated Test Structures for Characterizing RF Breakdown in Narrow Gaps.
Pub Date : 2021-05-01 DOI: 10.2172/1869544 A. Ruyack, M. Jordan, Christopher Moore, G. Hummel, Sergio Herrera, M. Ballance, A. Bingham, Adrian R. B. Schiess, Christopher Gibson, C. Nordquist
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