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2020 IEEE 66th Holm Conference on Electrical Contacts and Intensive Course (HLM) - 最新文献
Study of Measurement and Detection Algorithm of LVDC Residual Current
Pub Date : 2020-09-30 DOI: 10.1109/HLM49214.2020.9307908 Zhimin Xie, Xingwen Li, Jing Wang, Silei ChenThe Relationship between Contact Resistance and Roughness (Sq) of a Bi-layered Surface using a Finite Element Model
Pub Date : 2020-09-30 DOI: 10.1109/HLM49214.2020.9307833 J. McBride, H. LiuAnalysis of Thermal Characteristics of Switch Cabinet with Multi-Physics Field Coupling Method
Pub Date : 2020-09-30 DOI: 10.1109/HLM49214.2020.9307906 N. Tang, Hongyu Xu, Xiaofeng Bai, Xingwen Li
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