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2019 IEEE AUTOTESTCON - 最新文献
High-Speed Digital Bus Testing using Automatic Test- Markup Language (ATML)
Pub Date : 2019-08-01 DOI: 10.1109/AUTOTESTCON43700.2019.8961055 Daniel R. Coons, Willice Doyle, M. Lee, Jae-il ShinInvoking Universal Signal Model Acceptance, Use and Compatibility
Pub Date : 2019-08-01 DOI: 10.1109/AUTEST.2019.8878476 Timothy Winquist, H. Pritchett
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