查看最新文献
订阅
分享
1171发文信息
历年影响因子
历年发表
投稿信息
IEEE International Conference on Test, 2005. - 最新文献
The PXI carrier: a novel approach to ATE instrument development
Pub Date : 2005-11-08 DOI: 10.1109/TEST.2005.1584054 E. KushnickOff-shore outsource DFT vs. build off-shore branch offices
Pub Date : 2005-11-08 DOI: 10.1109/TEST.2005.1584133 Yu HuangLow cost multisite testing of quadruple band GSM transceivers
Pub Date : 2005-11-08 DOI: 10.1109/TEST.2005.1583999 Larry Zhang, D. Heaton, Hank Largey
免责声明：
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
京公网安备 11010802042870号
