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2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics (MIEL) - 最新文献
The scaling issues of subnanometer EOT gate dielectrics for the ultimate nano CMOS technology
Pub Date : 2017-10-01 DOI: 10.1109/MIEL.2017.8190067 J. Zhang, H. Wong, V. FilipAn overview of the modeling and simulation of the single event transients at the circuit level
Pub Date : 2017-10-01 DOI: 10.1109/MIEL.2017.8190065 M. Andjelković, A. Ilic, Z. Stamenkovic, M. Krstic, R. KraemerAnalog Device Design for Testability in the Case of Oscillation Based Testing
Pub Date : 2017-10-01 DOI: 10.1109/MIEL.2017.8190122 M. Petrović, M. Milić
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