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2015 IEEE Workshop on Microelectronics and Electron Devices (WMED) - 最新文献
Controlled Formation of Square Crack in Thinned 3DI Silicon Wafers
Pub Date : 2015-03-20 DOI: 10.1109/WMED.2015.7093689 A. Abdelnaby, R. Parker, Pavani Chennapragada, S. Vadhavkar, Wayne Huang, M. Brand, S. Varghese, Ross DandoLow-Noise CMOS Bandgap Reference Generator Using Two-Level Chopping Technique
Pub Date : 2015-03-20 DOI: 10.1109/WMED.2015.7093954 Bingxing Wu, S. Ay"Atomistic" Dopant Profiling Using Scanning Capacitance Microscopy
Pub Date : 2015-03-20 DOI: 10.1109/WMED.2015.7093691 S. Aghaei, P. Andrei, M. Hagmann
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