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LEOS '90. Conference Proceedings IEEE Lasers and Electro-Optics Society 1990 Annual Meeting - 最新文献
Backside Optical Detection Of Internal Gate Delays In Flip-chip Mounted Silicon VLSI Circuits
Pub Date : 1990-11-04 DOI: 10.1109/LEOS.1990.690676 H. Heinrich, N. Pakdaman, D. Kent, L. M. CroppFluorescence Probe Of The Adsorption Geometries Of Rhodamine 6G On A Fused Silica Surface
Pub Date : 1990-11-04 DOI: 10.1109/LEOS.1990.690535 A. Huston, C. ReimannOptical Probes Of Voltage And Charge Density Changes In High-speed Electronic Devices
Pub Date : 1990-11-04 DOI: 10.1109/LEOS.1990.690677 J. Wiesenfeld
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