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2009 IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference - 最新文献
Ring artifacts reduction in cone-beam CT images based on independent component analysis
Pub Date : 2009-05-05 DOI: 10.1109/IMTC.2009.5168737 Yenwei Chen, Guifang Duan, A. Fujita, Ken Hirooka, Y. UenoNovel functional testing technique for asynchronous nanowire crossbar system
Pub Date : 2009-05-05 DOI: 10.1109/IMTC.2009.5168622 S. Venkateswaran, Jong-seok Lee, Minsu ChoiFacial expression recognition by applying multi-step integral projection and SVMs
Pub Date : 2009-05-05 DOI: 10.1109/IMTC.2009.5168537 Yisu Zhao, Xiaojun Shen, N. Georganas
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