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2016 38th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD) - 最新文献
From quasi-static to transient system level ESD simulation: Extraction of turn-on elements
Pub Date : 2016-09-11 DOI: 10.1109/EOSESD.2016.7592563 F. Escudié, F. Caignet, N. Nolhier, M. BafleurSpice modelling flow for ESD simulation of CMOS ICs
Pub Date : 2016-09-01 DOI: 10.1109/EOSESD.2016.7592553 G. Langguth, A. IlleUnique current conduction mechanism through multi wall CNT interconnects under ESD conditions
Pub Date : 2016-09-01 DOI: 10.1109/EOSESD.2016.7592528 A. Mishra, M. Shrivastava
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