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International Test Conference, 2003. Proceedings. ITC 2003. - 最新文献
A built-in self-repair scheme for semiconductor memories with 2-d redundancy
Pub Date : 2003-11-06 DOI: 10.1109/TEST.2003.1270863 Jin-Fu Li, J. Yeh, Rei-Fu Huang, Cheng-Wen Wu, Peir-Yuan Tsai, Archer Hsu, Eugene ChowTest vector generation based on correlation model for ratio-I/sub DDQ/
Pub Date : 2003-11-06 DOI: 10.1109/TEST.2003.1270881 Xiaoyun Sun, L. Kinney, B. VinnakotaCost-effective approach for reducing soft error failure rate in logic circuits
Pub Date : 2003-11-06 DOI: 10.1109/TEST.2003.1271075 K. Mohanram, N. Touba
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