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2012 International Conference on Actual Problems of Electron Devices Engineering - 最新文献
Universal controlled electronic load for tests of highvoltage instrumentation
Pub Date : 2012-09-01 DOI: 10.1109/APEDE.2012.6478068 V. I. Perevodshikov, A. Sherbakov, I. M. Truhachev, B. I. YbiennihReduction of heterogeneity longitudinal component of the electrical field in the output cavity of multibeam klystrons
Pub Date : 2012-09-01 DOI: 10.1109/APEDE.2012.6478044 V. Muchkaev, V. TsarevAutomated setup for investigation of the semiconductor structures electrophysical properties
Pub Date : 2012-09-01 DOI: 10.1109/APEDE.2012.6478083 A. Neveshkin, Y. Slapovskaya, A. Gribenko, M. A. Chepurnov
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