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2020 IEEE 4th Information Technology, Networking, Electronic and Automation Control Conference (ITNEC) - 最新文献
Electronic Product Surface Defect Detection Based on a MSSD Network
Pub Date : 2020-06-01 DOI: 10.1109/ITNEC48623.2020.9084756 Yong Li, Jinbing XuResearch on Quality Evaluation Technology of “Model Data Platform” for PaaS Layer
Pub Date : 2020-06-01 DOI: 10.1109/ITNEC48623.2020.9085224 Ling-lin Gong, Yujia Li, Yuan Cheng, Xin XuSmall sample radar target recognition based on metric learning
Pub Date : 2020-06-01 DOI: 10.1109/ITNEC48623.2020.9085139 Yuan Yan, Jun Sun, Junpeng Yu, Jingming Sun
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