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26th IEEE VLSI Test Symposium (vts 2008) - 最新文献
IP Session 1C: Highways to Zero-Defects: Industrial Approaches
Pub Date : 2008-05-07 DOI: 10.1109/VTS.2008.65 A. MajhiA Time-Domain Method for Pseudo-Spectral Characterization
Pub Date : 2008-04-27 DOI: 10.1109/VTS.2008.50 A. Mishra, M. SomaTest-Pattern Grading and Pattern Selection for Small-Delay Defects
Pub Date : 2008-04-27 DOI: 10.1109/VTS.2008.32 Mahmut Yilmaz, K. Chakrabarty, M. Tehranipoor
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