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2016 32nd Thermal Measurement, Modeling & Management Symposium (SEMI-THERM) - 最新文献
Issues in testing advanced power semiconductor devices
Pub Date : 2016-04-25 DOI: 10.1109/SEMI-THERM.2016.7458458 G. Farkas, Z. Sárkány, M. RenczAutomatic calibration of detailed IC package models
Pub Date : 2016-03-14 DOI: 10.1109/SEMI-THERM.2016.7458454 B. BlackmoreA new approach to predict fan failures with fan speed correlation
Pub Date : 2016-03-14 DOI: 10.1109/SEMI-THERM.2016.7458451 Cong Li, Abishai Daniel, N. Ahuja
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