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2013 IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S) - 最新文献
Direct point-contact characterization of Bias instability on bare SOI wafers
Pub Date : 2013-10-07 DOI: 10.1109/S3S.2013.6716529 C. Márquez, N. Rodriguez, C. Fernandez, A. Ohata, F. Gámiz, F. Allibert, S. CristoloveanuSelf-aligned contacts for 10nm FDSOI Node: From device to circuit evaluation
Pub Date : 2013-10-01 DOI: 10.1109/S3S.2013.6716549 H. Niebojewski, C. Le Royer, Y. Morand, O. Rozeau, M. Jaud, S. Barnola, C. Arvet, J. Pradelles, J. Bustos, J. Pedini, E. Dubois, O. FaynotGaP source-drain SOI 1T-DRAM: Solving the key technological challenges
Pub Date : 2013-10-01 DOI: 10.1109/S3S.2013.6716573 A. Pal, A. Nainani, Z. Ye, X. Bao, E. Sanchez, K. Saraswat
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