查看最新文献
订阅
分享
423发文信息
历年影响因子
历年发表
投稿信息
2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop - 最新文献
SEU, SET, and SEFI Test Results of a Hardened 16Mbit MRAM Device
Pub Date : 2012-07-16 DOI: 10.1109/REDW.2012.6353717 C. Hafer, M. Von Thun, M. Mundie, D. Bass, F. SievertEvaluation of Enhanced Low Dose Rate Sensitivity in Discrete Bipolar Junction Transistors
Pub Date : 2012-07-16 DOI: 10.1109/REDW.2012.6353732 D. Chen, A. Topper, J. Forney, B. Triggs, T. Kazmakites, R. Pease, R. Ladbury, K. LabelRecent Power MOSFET Single Event Testing Results
Pub Date : 2012-07-16 DOI: 10.1109/REDW.2012.6353735 L. Scheick
免责声明：
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
京公网安备 11010802042870号
