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2012 IEEE International SOC Conference - 最新文献
Schematic-driven physical verification: Fully automated solution for analog IC design
Pub Date : 2012-12-31 DOI: 10.1109/SOCC.2012.6398358 A. Arafa, H. Wagieh, R. Salem, J. Ferguson, D. Morgan, M. Anis, M. DessoukyGray-level image recognition on a dynamically reconfigurable vision architecture
Pub Date : 2012-12-31 DOI: 10.1109/SOCC.2012.6398381 Yuki Kamikubo, Minoru Watanabe, S. KawahitoA scalable electrical characterization method for inter-strata interconnects in 3-D ICs
Pub Date : 2012-12-31 DOI: 10.1109/SOCC.2012.6398328 T. Xia, Guoan Wang
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