查看最新文献
订阅
分享
319发文信息
历年影响因子
历年发表
投稿信息
Proceedings 2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing (Cat. No.PR00637) - 最新文献
Testing of deep-submicron battery-operated circuits using new fast current monitoring scheme
Pub Date : 2000-04-30 DOI: 10.1109/DBT.2000.843692 M. Margala, I. PecuhCharge based testing (CBT) of submicron CMOS SRAMs
Pub Date : 2000-04-30 DOI: 10.1109/DBT.2000.843691 M. Rosales, I. de Paúl, J. Segura, C. Hawkins, J. SodenI/sub DDQ/ profiles: a technique to reduce test escape and yield loss during I/sub DDQ/ testing
Pub Date : 2000-04-30 DOI: 10.1109/DBT.2000.843689 H. Cheung, S.K. Gupta
免责声明：
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
京公网安备 11010802042870号
