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17th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2002. DFT 2002. Proceedings. - 最新文献
Duplication-based concurrent error detection in asynchronous circuits: shortcomings and remedies
Pub Date : 2002-11-06 DOI: 10.1109/DFTVS.2002.1173531 Thomas Verdel, Y. MakrisEffect of static power dissipation in burn-in environment on yield of VLSI
Pub Date : 2002-11-06 DOI: 10.1109/DFTVS.2002.1173497 A. Vassighi, O. Semenov, M. Sachdev, A. KeshavarziAdaptive test scheduling in SoC's by dynamic partitioning
Pub Date : 2002-11-06 DOI: 10.1109/DFTVS.2002.1173530 Dan Zhao, S. Upadhyaya
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